高速信号抖动的原因,你知道吗?
在高速串行信号物理层一致性测试中,抖动和眼图已经成为了一个绕不开的话题,它是评估高速信号质量的关键指标。随着串行数据传输系统的信号速率越来越高,电压摆幅不断降低来节约功耗,系统中的抖动占信号区间的比例正变得越来越大。因此,抖动已经成为限制性能的一个重要因素。随着抖动的增加,系统误码率便会越大。为了可靠地满足高速串行系统性能要求,首先要理解什么是抖动及怎样测量抖动,高速串行总线系统中更加严格地控制抖动,如何正确地分析抖动的特性以及对传输系统影响的显得非常重要。眼图是高速串行信号的宏观信号质量的整体体现,在眼图中可以直接反映出串行信号的幅度、抖动特性等。
抖动的分类
当时钟信号或数据信号存在较大的抖动时,接收机在识别信息时就会出错,导致信息传递出现“误码”(Bit Error)。抖动考虑的是时钟或数据过零点的时刻的不确定性,眼图则更加直观。我们以参考时钟的边沿为刀,将数据波形切割成无数的小段,每段波形只有 1 个 bit。然后将这些小段波形堆叠到一起,形成的眼睛形状的图片,称之为眼图。图 8:眼图是由所有 bits 堆叠而形成的图样,包含所有 bits 的信号完整性信息自高速串行信号诞生之初,抖动和眼图就是必测的项目。抖动可以评估时钟或信号的稳定性,眼图可以综合评估信号的抖动,幅度,反射,串扰等信号完整性问题。如果再套上一个眼图模板,通过眼图是否触碰模板,就可以轻松评判信号质量的优劣。图 9:眼图及其模板 LVDS 和 JESD204B 规范里就有抖动和眼图模板测试。翻开 JESD Spec,会发现它清晰地定义了近端和源端的眼图模板。眼图不得碰到三块模板(灰色区域)里的任何一块,否则测量项就是 Fail 的。图 10:JESD204B 标准的接收端眼图模板测试工程师测出了眼图和抖动的结果,给出测试 Pass 或 Fail 的测量报告,工作就算完成了。但研发工程师的噩梦才刚刚开始,测试 Fail 了,怎么才能解决呢?其实基本思路非常简单,概括起来就是:抓大放小,对症下药!经典理论下,信号的总体抖动(Tj, Total Jitter)可以分成以下几类。我们通过示波器的抖动软件,测量出每种抖动成分的大小,将最严重的抖动成分降低,总体抖动就能降下来了。图 11:抖动的分类其中,随机抖动(Rj, Random Jitter)是由布朗运动/热噪声引起的,符合高斯正态分布。随机抖动的峰峰值和测量的样本数(总 bits 数量)息息相关,理论上只要测量的时间足够长,随机抖动可以增加到无穷大。抖动分析时,随机抖动的测量值一般用 RMS 值来表示。
抖动的来源
抖动的来源主要分为两大类:确定性抖动和随机性抖动。确定性抖动主要包括:
1. 码间干扰(ISI):由于传输介质的不理想,导致前后码元之间相互干扰,从而引起的抖动。这种抖动通常是由线路的电气特性引起的,可以通过改善线路的传输特性来减少。
2. 时钟抖动:时钟信号的抖动会导致接收端对时钟信号的采样时刻发生变化,从而引起数据的误码。时钟抖动通常是由时钟源的稳定性和时钟布线的质量引起的,可以通过使用高质量的时钟源和优化时钟布线来减少。
3. 电源抖动:电源噪声会对数字电路的工作产生影响,从而引起抖动。这种抖动通常是由电源的质量和电源滤波引起的,可以通过使用高质量的电源和优化电源滤波来减少。
4. 电磁干扰(EMI):电磁干扰会对数字电路的工作产生影响,从而引起抖动。这种抖动通常是由外部电磁干扰源引起的,可以通过采取电磁屏蔽和滤波措施来减少。
随机性抖动主要包括:
1. 热噪声:由于导体中的自由电子的热运动引起的噪声,这种噪声是由导体的温度和电导引起的,无法完全消除。
2. 散粒噪声:由于半导体器件中载流子的随机运动引起的噪声,这种噪声是由半导体器件的特性和工作条件引起的,无法完全消除。
3. 闪烁噪声:由于半导体器件中晶格缺陷和杂质引起的噪声,这种噪声是由半导体器件的制造工艺和工作条件引起的,无法完全消除。